FTIR mikroskopai

Kurkite FT-IR mikroskopijos ateitį kartu su Bruker

Bruker didžiuojasi esanti inovacijų lyderė infraraudonųjų spindulių mikroskopijos srityje. Šiuos teiginius patvirtina pažangiausi rinkoje esantys μ-FT-IR ir IR lazeriniai prietaisai. Bruker asortimentą sudaro vieno elemento sistemos su MCT, taip pat židinio plokštumos matricos arba QCL pagrindu veikiančios IR lazerinės vaizdavimo sistemos. Nesvarbu, ko ieškote, kai kalbama apie mikrovibracinę spektroskopiją, pataikėte ten, kur reikia. Susipažinkite su Bruker FT-IR mikroskopijos prietaisais, skirtais išsamiai mikroskopinei analizei. Dėl pažangios optikos ir tikslios analizės jie užtikrina aiškumą ir gylas įžvalgas įvairiose srityse - nuo medžiagų mokslo iki biologijos.

Bruker FTIR

Bruker yra infraraudonosios spinduliuotės mikroskopijos inovacijų lyderis, siūlantis pažangiausią μ-FT-IR ir IR lazerinę instrumentaciją rinkoje – nuo rutininės infraraudonosios mikroskopijos iki itin greito vaizdinimo ir pritaikomų tyrimų mikroskopų. Asortimentas apima vieno elemento sistemas su MCT detektoriais, taip pat fokalinės plokštumos matricos (FPA) arba QCL pagrindu veikiančias IR lazerinio vaizdinimo sistemas, patenkinant visus mikro vibracinės spektroskopijos poreikius. LUMOS II FT-IR mikroskopas skirtas greitai ir paprastai mikrocheminei analizei ir itin greitam vaizdinimui, idealus gedimų analizei, dalelių analizei ir kokybės kontrolės problemų sprendimui, o HYPERION II FT-IR QCL mikroskopas pastumia infraraudonąją mikroskopiją prie fizinės šviesos difrakcijos ribos, sujungdamas QCL ir FT-IR technologijas viename prietaise. Bruker išskirtinis fokalinės plokštumos matricos (FPA) vaizdo detektorius suteikia didžiausią erdvinę skiriamąją gebą rinkoje detaliems cheminiams vaizdams iki mikrono lygio.

Pagrindinės savybės:

• LUMOS II – greita, paprasta mikrocheminė analizė ir itin greitas vaizdinimas

• HYPERION II – QCL ir FT-IR sujungti prie fizinės šviesos difrakcijos ribos

• Fokalinės plokštumos matricos (FPA) detektorius – didžiausia erdvinė skiriamoji geba rinkoje

• Vieno elemento MCT sistemos kartu su FPA ir QCL vaizdinimo galimybėmis

• Keli detektorių konfigūravimo variantai maksimaliam jautrumui mažiems mėginiams

Įprasti taikymai:

• Gedimų analizė ir dalelių analizė

• Kokybės kontrolės problemų sprendimas gamyboje

• Mikrocheminis vaizdinimas mikrono lygyje tyrimuose ir pramonėje

Turite klausimų?

Susisiekite su mumis