JEOL Elektroninė mikroskopija

JEOL skenuojantys elektroniniai mikroskopai (SEM) kartu su gausiu paviršiaus stebėjimo ir analizės priedų asortimentu yra vieni aktyviausiai naudojamų prietaisų MTEP institutuose ir kokybės tikrinimo vietose visame pasaulyje. JEOL siūlo platų asortimentą – nuo universalios paskirties SEM (W-SEM), įskaitant stalinius modelius, tokius kaip JCM-7000 NeoScope ir JCM-7000Plus NeoScope, kuriuos gali valdyti bet kas be specialių žinių ar įgūdžių, iki aukščiausios klasės lauko emisijos SEM (FE-SEM), tokių kaip JSM-IT810 Schottky FE-SEM, JSM-IT710HR, JSM-IT210 ir JSM-IT510 InTouchScope. Energijos dispersinės rentgeno spektrometrai (EDS) elementinei analizei taip pat kuriami įmonės viduje, suteikiant pilną paviršiaus vaizdinimo ir cheminės analizės sprendimą iš vieno gamintojo.

Pagrindinės savybės:

• Staliniai universalios paskirties SEM (JCM-7000 NeoScope serija) be specialaus mokymo

• Aukščiausios klasės lauko emisijos SEM (FE-SEM), įskaitant JSM-IT810 Schottky modelį

• JSM-IT710HR, JSM-IT210 ir JSM-IT510 InTouchScope modeliai, apimantys skirtingus našumo lygius

• Įmonės viduje kuriami energijos dispersiniai rentgeno spektrometrai (EDS) elementinei analizei

• Platus paviršiaus stebėjimo ir analizės priedų asortimentas

Įprasti taikymai:

• Paviršiaus stebėjimas ir morfologinė analizė MTEP darbe

• Kokybės kontrolės ir gedimų analizės tikrinimo vietos

• Elementinė analizė kartu su SEM vaizdinimu naudojant EDS