
Bruker proceso spektrometrai pritaiko FT-IR, FT-NIR ir Ramano technologijas realaus laiko proceso stebėjimui ir optimizavimui, naudodami skaidulinius zondus ir tiesioginius jutiklius, kad mėginiai būtų analizuojami be delsos. Visos trys technikos taikomos Proceso Analitinės Technologijos (PAT) sprendimuose chemijos, naftos chemijos, polimerų, maisto ir pašarų, bioprocesų ir farmacijos gamyboje, o visi prietaisai pasižymi tuo pačiu patvarumu, ilgalaikiu stabilumu ir mažais priežiūros reikalavimais. Asortimentą sudaro vienataškė analizė su BEAM FT-NIR analizatoriumi, daugiataškis stebėjimas su MATRIX-F II (iki 6 zondų per SMA jungtis), Ramano proceso analizė su Process Guardian ir laboratorinis ar bandomosios gamybos FT-IR darbas su MATRIX-MF.
Pagrindinės savybės:
• FT-IR, FT-NIR ir Ramano technologijos vienoje proceso platformoje
• Skaiduliniai zondai ir tiesioginiai jutikliai analizei be delsos
• Konfigūracijos nuo vienataškės (BEAM) iki daugiataškės (MATRIX-F II, iki 6 zondų)
• Patvari konstrukcija nepertraukiamam pramoniniam darbui
Įprasti taikymai:
• Realaus laiko proceso stebėjimas vamzdynuose, bunkeriuose ir konvejeriuose
• Chemijos, naftos chemijos ir polimerų proceso kontrolė
• Maisto, pašarų ir bioprocesų PAT taikymai
• Farmacijos gamybos proceso optimizavimas
Aukščiausios kokybės laboratorinė įranga ir paslaugos.