XPREP C-IC

Automatizuotas mėginių paruošimo tirpalas, skirtas bendram fluoro, chloro, bromo ir jodo kiekiui tirti degimo jonų chromatografijos metodu

Degimo jonų chromatografija

"TE Instruments" pristato pirmąją pasaulyje nepriklausomą mėginių paruošimo sistemą, skirtą degimo jonų chromatografijos analizei: "Xprep C-IC". Ši unikali konfigūracija iš naujo apibrėžia automatizuotą degimo IC analizę dėl savo novatoriškos konstrukcijos ir funkcijų.

Be visiško mėginio deginimo valdymo, "Xprep C-IC" ne tik surenka oksiduotų dujų srautą, bet ir automatiškai perkelia absorbcinio tirpalo dalį į bet kurią žinomą IC sistemą. Idealus sprendimas, atitinkantis didėjantį korozinių halogenų (fluoro, chloro, bromo, jodo) ir sieros junginių (pvz., sulfatų, sulfitų, tiosulfatų) analizės poreikį įvairiose matricose. Šias analites reikia stebėti, nes jos yra ėsdinančios, nuodija katalizatorius, kenkia pramoninei įrangai ir yra kenksmingos aplinkai.

TE Instruments sukūrė visiškai automatizuotą, itin kompaktišką mėginio paruošimo sistemą, apimančią oksidacinį pirohidrolitinį deginimą, frakcijų surinkimą ir mėginio įpurškimą į IC. Į horizontalią krosnį "Xprep C-IC" mėginius galima įvesti tiek optimizuota tiesiogine injekcija (skysčių modulis), tiek įprastiniu įleidimu valtimi (valties modulis). Šis automatizuotas mėginių paruošimo sprendimas sumažina mėginių perkėlimo sudėtingumą ir gerokai padidina naudotojų patogumą.

Tarptautiniai standartai: ASTM D8247, UOP 991, UOP 1001, ASTM D5987, ASTM D7359, ASTM D7994, ASTM D8150, DIN 38409-59, EPA 1621